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摘要
本发明公开了一种用电桥测量LED结温的装置及其方法。该装置包括电源E和由可变电阻R1、可变电阻R2、可变电阻R3、LED组成的惠更斯电桥,还包括快速转换开关S1和S‘1,电桥导通与否受开关S1控制,LED通过开关S‘1与工作电源相连,在电桥中间还连接有直流电压放大器。该方法包括K的标定和工作电流下LED的结温测量过程。本发明不要求准确测量10-5秒内LED两端电压,只需观察电压比较器示数是否为零,精确程度取决于电压比较器的灵敏度,只要合理选择电压比较器,可以避免电压脉冲等误差的影响;本发明可以测量交流、脉冲等等任何形式的工作电流下LED的结温,适应性强;本发明可以通过增加测试时间,有效的控制结温测量的误差。
法律状态
法律状态公告日 | 20191217 |
法律状态 | 专利权人的姓名或者名称、地址的变更 |
法律状态信息 | 专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G01K 11/00 专利号:ZL2014106297740 变更事项:专利权人 变更前:江苏福瑞德光电有限公司 变更后:江苏守恒建设集团有限公司 变更事项:地址 变更前:225600 江苏省扬州市高邮市送桥镇(邮仪路)-1-2 变更后:225600 江苏省扬州市高邮市送桥镇(邮仪路)-1-2 |
法律状态公告日 | 20180515 |
法律状态 | 专利申请权、专利权的转移 |
法律状态信息 | 专利权的转移 IPC(主分类):G01K 11/00 登记生效日:20180426 变更事项:专利权人 变更前权利人:常州工学院 变更后权利人:江苏福瑞德光电有限公司 变更事项:地址 变更前权利人:213022 江苏省常州市新北区巫山路1号 变更后权利人:225600 江苏省扬州市高邮市送桥镇(邮仪路)-1-2 |
法律状态公告日 | 20170510 |
法律状态 | 授权 |
法律状态信息 | 授权 |
法律状态公告日 | 20150225 |
法律状态 | 实质审查的生效 |
法律状态信息 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01K 11/00 申请日:20141110 |
法律状态公告日 | 20150128 |
法律状态 | 公开 |
法律状态信息 | 公开 |
事务数据公告日 | 20180515 |
事务数据类型 | 专利申请权、专利权的转移 |
转让详情 | 专利权的转移 IPC(主分类):G01K 11/00 登记生效日:20180426 变更事项:专利权人 变更前权利人:常州工学院 变更后权利人:江苏福瑞德光电有限公司 变更事项:地址 变更前权利人:213022 江苏省常州市新北区巫山路1号 变更后权利人:225600 江苏省扬州市高邮市送桥镇(邮仪路)-1-2 |
权利要求
权利要求数量(8)
独立权利要求数量(2)
1.一种用惠更斯电桥测量LED结温的装置,其特征在于:包括电源E和由可 变电阻R1、可变电阻R2、可变电阻R3、LED组成的惠更斯电桥,还包括快速 转换开关S1和S‘ 1,电桥导通与否受开关S1控制,LED通过开关S‘ 1与工作电 源相连,在电桥中间还连接有直流电压放大器,其输出端连接脉冲展宽器,其输 出端连接正向和反向连接的LED阵列。
2.根据权利要求1所述的用电桥测量LED结温的装置,其特征在于:所述LED 连同灯座设置于恒温器上,两者热接触良好。
3.根据权利要求2所述的用电桥测量LED结温的装置,其特征在于:所述LED 外部还设有用于防止环境热流动对LED环境温度的影响的玻璃罩。
4.根据权利要求1所述的用电桥测量LED结温的装置,其特征在于:所述直 流电压放大器的放大倍数不小于10 3,最大输出为4V,输入电阻大于100KΩ。
5.根据权利要求1所述的用电桥测量LED结温的装置,其特征在于:所述脉 冲展宽器能够将900微秒到1100微秒的脉冲电压,展宽为1秒的直流脉冲电压, 其他宽度的脉冲电压,不展宽。
6.根据权利要求1所述的用电桥测量LED结温的装置,其特征在于:所述LED 阵列由正反连接,启动电压大于2.2V、小于5V。
7.根据权利要求1所述的用电桥测量LED结温的装置,其特征在于:所述开 关S和S‘ 1为快速转换开关,转换时间小于10 -5s。
8.一种用电桥测量LED结温的方法,包括如下步骤:
(1)K的标定:
闭合S1,调节R 1和R 2,使得流过LED的电流为测试电流I s,所述测试电 流I s指小于额定电流10%的电流,此时流过LED的电流比较小,可以认为此时 流过LED的电流对于LED结温的影响很小可以忽略不计,此时外界的环境温度 近似认为是LED的结温;
设定恒温器的温度为T1,待热平衡后,调节R1、R3两个可变电阻箱使LED 阵列中两个LED均不发光,表明电桥基本平衡,R3两端的电压就是LED两端的 电压U F(T 1);
设定恒温器的温度为T2,待热平衡后,调节R1、R3两个可变电阻箱使LED 阵列中两个LED均不发光,即电桥平衡,R3两端的电压就是LED两端的电压
根据公式 计算出K;
(2)工作电流下LED的结温测量:
闭合S1,然后设定恒温器温度T 3,调节可调电阻R3,使得通过LED电流 为Is,调节R3使得LED阵列中两个LED不发光,即电桥平衡,测得LED两端 电压为U 1,计算公式
闭合S‘ 1,同时断开S1,在工作电源U的作用下,LED工作,设此时结温即 为待测结温为T4;结温测试开始:开关S1接通时间999ms,然后断开,10 -5秒内 S‘ 1接通时间为1ms,然后如此反复(即:开关变换方式是S1接通999ms,然后接通 S/11毫秒,然后接通S1999ms,再接通S/11毫秒,如此反复),观察LED阵列中 LED的发光情况,如果正向安装的LED亮,而反向安装的暗,增大R3,反之, 减小R3.直到LED阵列中两个LED均不亮为止,如果两个LED一直都亮,说 明电压误差较大,应减小电压误差,或调整直流电压放大器,使得LED阵列中 两个LED均不亮,电桥平衡;此时,LED两端的电压计算公式为
结温计算:结温
1.一种用惠更斯电桥测量LED结温的装置,其特征在于:包括电源E和由可变电阻R1、可变电阻R2、可变电阻R3、LED组成的惠更斯电桥,还包括快速转换开关S1和S‘1,电桥导通与否受开关S1控制,LED通过开关S‘1与工作电源相连,在电桥中间还连接有直流电压放大器,其输出端连接脉冲展宽器,其输出端连接正向和反向连接的LED阵列。
2.根据权利要求1所述的用电桥测量LED结温的装置,其特征在于:所述LED连同灯座设置于恒温器上,两者热接触良好。
3.根据权利要求2所述的用电桥测量LED结温的装置,其特征在于:所述LED外部还设有用于防止环境热流动对LED环境温度的影响的玻璃罩。
4.根据权利要求1所述的用电桥测量LED结温的装置,其特征在于:所述直流电压放大器的放大倍数不小于103,最大输出为4V,输入电阻大于100KΩ。
5.根据权利要求1所述的用电桥测量LED结温的装置,其特征在于:所述脉冲展宽器能够将900微秒到1100微秒的脉冲电压,展宽为1秒的直流脉冲电压,其他宽度的脉冲电压,不展宽。
6.根据权利要求1所述的用电桥测量LED结温的装置,其特征在于:所述LED阵列由正反连接,启动电压大于2.2V、小于5V。
7.根据权利要求1所述的用电桥测量LED结温的装置,其特征在于:所述开关S和S‘1为快速转换开关,转换时间小于10-5s。
8.一种用电桥测量LED结温的方法,包括如下步骤:
(1)K的标定:
闭合S1,调节R1和R2,使得流过LED的电流为测试电流Is,所述测试电流Is指小于额定电流10%的电流,此时流过LED的电流比较小,可以认为此时流过LED的电流对于LED结温的影响很小可以忽略不计,此时外界的环境温度近似认为是LED的结温;
设定恒温器的温度为T1,待热平衡后,调节R1、R3两个可变电阻箱使LED阵列中两个LED均不发光,表明电桥基本平衡,R3两端的电压就是LED两端的电压UF(T1);
设定恒温器的温度为T2,待热平衡后,调节R1、R3两个可变电阻箱使LED阵列中两个LED均不发光,即电桥平衡,R3两端的电压就是LED两端的电压 U F ( T 2 ) , U F ( T 2 ) = R 3 R 2 E ; ]]>
根据公式计算出K;
(2)工作电流下LED的结温测量:
闭合S1,然后设定恒温器温度T3,调节可调电阻R3,使得通过LED电流为Is,调节R3使得LED阵列中两个LED不发光,即电桥平衡,测得LED两端电压为U1,计算公式
闭合S‘1,同时断开S1,在工作电源U的作用下,LED工作,设此时结温即为待测结温为T4;结温测试开始:开关S1接通时间999ms,然后断开,10-5秒内S‘1接通时间为1ms,然后如此反复(即:开关变换方式是S1接通999ms,然后接通S/11毫秒,然后接通S1999ms,再接通S/11毫秒,如此反复),观察LED阵列中LED的发光情况,如果正向安装的LED亮,而反向安装的暗,增大R3,反之,减小R3.直到LED阵列中两个LED均不亮为止,如果两个LED一直都亮,说明电压误差较大,应减小电压误差,或调整直流电压放大器,使得LED阵列中两个LED均不亮,电桥平衡;此时,LED两端的电压计算公式为
结温计算:结温 T 4 = U 2 - U 1 K + T 3 . ]]>
说明书
本发明涉及LED光电检测方法,尤其涉及一种LED结温的测量装置及其方法。
LED(Light Emitting Diode)已被广泛应用于信号指示、液晶背光源、显示、通用照明等领域。但是,LED自身的光电色特性和寿命与结温密切相关。结温升高会导致LED的发光效率降低、寿命缩短。因此,如何快速、科学、方便地测量LED结温就成为了问题的突破口。
目前,国内外标准推荐的LED结温测量方法有:1、正向电压法,所涉及的现有技术文献有EIA/JEDEC standard JESD51-1、中国标准200910198965.5、中国专利200920212653.0、中国专利200910198965.5;2、热阻法,该方法是通过测量LED管脚温度和芯片散热的热功率,以及热阻系数来确定结温,测量中需要结合正向电压法来确定热阻系数,所涉及的现有技术文献有标准SJ/T11394-2009;3、基于光谱特性的峰值波长法,所涉及的现有技术文献有Third InternationalConference on Solid State Lighting,Proceedings of SPIE 2010.5187:93-99;4、谷值波长法,所涉及的现有技术文献有光谱学与光谱分析,2013,33(1):36-39;5、辐射强度法,所涉及的现有技术文献有光电子·激光2009,20(8):1053-1057;6、蓝白比法,所涉及的现有技术文献有Third international conference on solid state lighting,proceedings of SPIE 2010.5187:107-114;7、微拉曼谱法,所涉及的现有技术文献有Phys.Status.Solidi,A202(2005)824;8、中心波长法,所涉及的现有技术文献有Microelectronics Reliability,2013,53(5):701-705;9、基于红外辐射的液晶阵列热成像法,所涉及的现有技术文献有Phys.Stat.Sol(c)1(2004)2429。
电压法测量结温是目前结温测量领域的“金标准”,被认为测量结果最可靠,其测试原理和过程如下:
正向电压法是利用LED的PN结电输运的温度效应,通过测量测试电流Is下的正向电压来测算结温。实验和理论均表明,在恒定电流驱动下,LED两端电压随结温线性变化,即:
UF(T2)=UF(T1)+K(T2-T1) (1)
式中,UF(T2),UF(T1)分别为结温在T2,T1时的LED正向电压,K为电压-温度系数,一般地,对于AlInGaP和InGaN这两种发光材料,其K值约为-2mV/℃。其测试步骤如下:
(1)K值的测量。具体方法是,在选定测试电流Is,保持器件的PN结处于不同的恒定温度场中,测量不同结温下器件正向电压,计算出K。公式为:
K = U 2 ′ - U 1 ′ T 2 ′ - T 1 ′ - - - ( 2 ) ]]>
式中:U′2,U′1为环境温度为T′2,T′1时LED的结电压。测量时,一般要求T′2,T′1相差50℃以上,一般地,Is不大于5%的额定电流。
(2)工作电流下LED结温的测量。首先,在测试电流Is下,测量LED两端的电压UF(T1),由于Is很小,对LED的加热也很少,可以认为T1等于环境温度。然后,在工作温度下,将LED通电保持工作状态,达到热平衡时,断电使LED脱离工作状态,然后在10-5内接通定标电流,并测量正向电压UF(T2)。
(3)根据公式(1),计算出LED工作时的结温T2。
很明显,电压法测量结温存在一个技术难点:在10-5秒内准确测量标定电流驱动下的电压。目前这个难点已经有解决方案,也有成型的设备,如杭州远方公司的TRA-200LED热阻结构分析系统(价格20万人民币),但是价格较高。(原因是要使用快速、准确地数据采集装置,而这种装置价格较高)。
针对现有技术中采用高速采样的方法得到电压,对采样速率、精度要求高,对系统的误差控制要求较高,致使符合条件的电压测试仪器比较贵的问题,本发明提供一种基于惠更斯电桥的、准确可靠、方便简洁的LED结温测量装置及方法,该装置使用成本较低,该方法通过电桥反复比较定标电流Is下LED两端的电压与精密电阻两端的电压,得到比较准确的UF(T2),而不是直接高速采集得到UF(T2),减小了技术难度,降低了仪器成本,并且使用方便,可简单高效地测量LED的结温。
本发明的技术方案是:
一种用惠更斯电桥测量LED结温的装置,包括电源E和由可变电阻R1、可变电阻R2、可变电阻R3、LED组成的惠更斯电桥,还包括快速转换开关S1和S‘1,电桥导通与否受开关S1控制,LED通过开关S‘1与工作电源相连,在电桥中间还连接有直流电压放大器,其输出端连接脉冲展宽器,其输出端连接正向和反向连接的LED阵列。
进一步,所述LED连同灯座设置于恒温器上,两者热接触良好。
进一步,所述LED外部还设有用于防止环境热流动对LED环境温度的影响的玻璃罩。
进一步,所述直流电压放大器的放大倍数不小于103,最大输出为4V,输入电阻大于100KΩ。
进一步,所述脉冲展宽器能够将900微秒到1100微秒的脉冲电压,展宽为1秒的直流脉冲电压。其他宽度的脉冲电压,不展宽。
进一步,所述LED阵列由正反连接,启动电压大于2.2V,小于5V。
进一步,所述开关S和S/为快速转换开关,转换时间小于10-5s.(注,一般的半导体开关可以满足要求)
一种用电桥测量LED结温的方法,包括如下步骤:
(1)K的标定:
闭合S1,调节R1和R2,使得流过LED的电流为测试电流Is,所述测试电流Is指小于额定电流10%的电流,此时流过LED的电流比较小,可以认为此时流过LED的电流对于LED结温的影响很小可以忽略不计,此时外界的环境温度近似认为是LED的结温;
设定恒温器的温度为T1,待热平衡后,调节R1、R3两个可变电阻箱使LED阵列中两个LED均不发光,表明电桥基本平衡,R3两端的电压就是LED两端的电压UF(T1);
设定恒温器的温度为T2,待热平衡后,调节R1、R3两个可变电阻箱使LED阵列中两个LED均不发光,即电桥平衡,R3两端的电压就是LED两端的电压UF(T2), U F ( T 2 ) = R 3 R 2 E ; ]]>
根据公式计算出K;
(2)工作电流下LED的结温测量:
闭合S1,然后设定恒温器温度T3,调节可调电阻R3,使得通过LED电流为Is,调节R3使得LED阵列中两个LED不发光,即电桥平衡,测得LED两端电压为U1,计算公式
闭合S‘1,同时断开S1,在工作电源U的作用下,LED工作,设此时结温即为待测结温为T4;结温测试开始:开关S1接通时间999ms,然后断开,10-5秒内S‘1接通时间为1ms,然后如此反复(即:开关变换方式是S1接通999ms,然后接通S/1 1毫秒,然后接通S1 999ms,再接通S/1 1毫秒,如此反复),观察LED阵列中LED的发光情况,如果正向安装的LED亮,而反向安装的暗,增大R3,反之,减小R3.直到LED阵列中两个LED均不亮为止,如果两个LED一直都亮,说明电压误差较大,应减小电压误差,或调整直流电压放大器,使得LED阵列中两个LED均不亮,电桥平衡;此时,LED两端的电压计算公式为
结温计算:结温 T 4 = U 1 - U 1 K + T 3 . ]]>
本发明的有益效果是:
1、本发明不要求准确测量10-5秒内LED两端电压,只需要观察LED阵列中LED的发光情况,方便简单。结温精确程度取决于电路的噪声,因此只要合理选择电路,让噪声不能驱动LED阵列中的LED,同时,如果电压噪声过大,LED两只均亮,起到提醒作用。
2、由于采用了脉冲展宽技术,虽然测量频率为1Hz,如果电桥不平衡,LED会一直亮着,不会闪烁,方便了观察。
3、由于只对900微秒到1100微秒的脉冲进行展宽,达不到要求的脉冲不放大,有效地抑制了毛刺状噪声。
4、本发明可以测量交流、脉冲等等任何形式的工作电流下LED的结温,适应性强。
图1是本发明用电桥测量LED结温的装置的电路连接图;
图2是本发明开关的示意图;
图3是LED连同灯座放在恒温器上的结构示意图;
图4是流过LED的电流随时间的变化关系图;
图5是本发明用电桥测量LED结温的方法的测量流程图;
图6是本发明中直流电压放大器的连接结构图;
图7是本发明中LED阵列结构的结构示意图。
图中:1、玻璃罩;2、LED。
下面结合附图对本发明作进一步详细说明。
本发明用电桥测量LED结温的装置的电路连接图如图1所示,电路包括测试电源E、可变电阻R1、R2、R3,LED灯座(图中LED是放在灯座上),这四者组成惠更斯电桥,电桥导通与否受开关S1控制。LED通过开关S‘1与工作电源(或称加热电源)相连,电路中开关S1和S‘1是快速转换开关,如图2,一般采用MOS或场效应管来实现。在电桥中间还连接有直流电压放大器,其输出端连接脉冲展宽器,其输出端连接正向和反向连接的LED阵列。其中,直流电压放大器的连接结构如图6所示,LED阵列的结构如图7所示。
LED2连同灯座放在恒温器上,如图3,两者热接触良好,恒温器的温度可以在0-100℃变化,误差小于0.3℃(实施例中恒温器的型号为TC-100)。作为一种优选结构,LED外部还设有玻璃罩1,玻璃罩用于防止环境热流动对LED2环境温度的影响,玻璃罩的优选尺寸为直径10cm,玻璃罩的优选尺寸不能太小,否则影响LED2热平衡。
直流电压放大器的放大倍数不小于103,最大输出为4V,输入电阻大于100KΩ;脉冲展宽器能够将900微秒到1100微秒的脉冲电压,展宽为1秒的直流脉冲电压,其他宽度的脉冲电压,不展宽;LED阵列由正反连接,启动电压大于2.2V,小于5V;开关S和S/为快速转换开关,转换时间小于10-5s.(一般的半导体开关可以满足要求)
本发明中所述的测试电流指小于额定电流10%的电流。本实施例采用1mA。另外,本实施例中的脉冲展宽采用的是MAX7000系列的EPM7128SLC84-15芯片构成的电路,时钟脉冲为1.0微秒。脉冲电压放大电路的放大倍数beta,与LED的开启电压Von,噪声电压Vnoise之间的关系为:Von>beta×Vnoise,实施例选择Von=1.5×beta×Vnoise。
本发明测量LED结温的原理即为电压法测量结温的原理,依然是测量结温电压系数K,再测量电压UF(T2)。但是实现过程与现有的方法相比明显不同,本发明用惠更斯电桥测量LED结温,其步骤如图5所示,具体步骤如下:
一、K的标定
闭合S1,调节R1和R2,使得流过LED的电流为测试电流Is(具体值不要求很准确,只要电流比较小,一般小于10%额定电流),此时流过LED的电流比较小,可以认为此时流过LED的电流对于LED结温的影响很小可以忽略不计,此时外界的环境温度(恒温器的温度)就可以近似认为是LED的结温。
设定恒温器的温度为T1(本实施例设定T1为10℃),待热平衡后,调节R1、R3两个可变电阻箱使LED阵列中两个LED均不亮,即电桥平衡,R3两端的电压就是LED两端的电压UF(T1)(本实施例中为2.615V)。
设定恒温器的温度为T2(本实施例设定T2为60℃),待热平衡后,调节R1、R3两个可变电阻箱使LED阵列中两个LED均不亮,即电桥平衡,R3两端的电压就是LED两端的电压UF(T2),(本实施例中为2.703V)。
根据公式(2),计算出K=1.76mV/℃。
二、工作电流下LED的结温测量
闭合S1,然后设定恒温器温度T3(本实施例中设定T3为10℃),调节可调电阻R3,使得通过LED电流为Is(具体值不要求很准确,只要电流比较小,一般小于10%额定电流,可以不与标定K中的Is相同),调节R3使LED阵列中两个LED均不亮,即电桥平衡,测得LED两端电压为U1,计算公式(本实施例中为2.615V)。(此时,T3不特定,可以等于T1或T2,即这一段的过程也可以没有,直接采用U1=UF(T1)或U1=UF(T2),本实施例中直接采用U1=UF(T1))。
闭合S‘1,同时断开S1,在工作电源U的作用下,LED工作,设此时结温即为待测结温为T4;结温测试开始:开关S1接通时间999ms,然后断开,10-5秒内S‘1接通时间为1ms,然后如此反复(即:开关变换方式是S1接通999ms,然后接通S/1 1毫秒,然后接通S1 999ms,再接通S/1 1毫秒,如此反复),观察LED阵列中LED的发光情况,如果正向安装的LED亮,而反向安装的暗,增大R3,反之,减小R3.直到LED阵列中两个LED均不亮为止,(如果两个LED一直都亮,说明电压误差较大,应重新选择稳定性好的电桥,本专利中,代理人决定是否写括号中的内容)使得LED阵列中两个LED均不亮;此时,LED两端的电压计算公式为 U 2 = R 3 R 2 E . ]]>
(本实施例中为2.708)。
结温计算:结温(本实施例中为62.84℃)。
本专利测量过程中,LED电流随时间的变化关系,见图4。图中,Is为测试电流,即E对应的电流,Io为工作电流,即U对应的电流。在0-t1时间段,s1闭合,s1’断开,LED通过测试电流Is,完成K系数的测定。即,先设定恒温器的温度T1,调节电桥,使之平衡,得到LED两端的电压U1‘。然后将恒温器温度设定为T2,调节电桥,使之平衡,得到LED两端的电压U2‘,代入(2)式,得到K。
t1~t2时间是加热时间,s1’闭合,s1断开,LED的电流为工作电流Io。
t2~t3时间是测量时间,s1闭合,s1’断开,电压放大器,脉冲展宽器和LED阵列工作.如果电桥平衡,LED阵列中两个LED均不亮,测试结束,如果不平衡,调整电阻R3,而后重复加热和测量过程,直到电桥平衡。由于采用了脉冲展宽电路,如果电压不平衡,总有一只LED亮,一只暗。
本专利处理中选择的测试时间和加热时间之比为1:999,这样测试过程对结温的影响很小。
综上所述,通过采用上述技术手段,本发明的装置及方法具有以下优点:1,单次标定,多次测量。即在宽的结温范围内,只需要选择几个结温标定电压-结温系数K,测量时,只要是同型号的LED照明系统,均可以采用采用标定的结果得到结温。2,操作简单,仅需要调节R3。3,不需要准确、快速测量LED两端的电压,仅需低价值的精密电阻箱,脉冲展宽电路和脉冲放大电路等设备。4,受噪声电压影响小,容易准确测量,测量的可重复性高,用于表征结温误差小。5,工作电流(Io)为任何形式(方波,交流,脉冲等)的电流。6,可以用于单颗LED结温测量,也可以用于多颗LED组成的阵列的平均结温测量,使用范围广。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明。凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
价值度评估
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0 0 057.0分
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部分指标包括:
授权周期(发明)
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无保密专利的解密
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院校许可备案
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部分指标包括:
存活期/维持时间
10法律状态
有权-审定授权